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Elektronenmikroskop
Ein Elektronenmikroskop ist ein Mikroskop, welches anstelle von Licht Elektronenstrahlen zur Abbildung von Gegenständen verwendet. Wie beim klassischen Lichtmikroskop ist auch hier das Auflösungsvermögen von der verwendeten Wellenlänge abhängig, allerdings bieten sich sehr viele Möglichkeiten der Untersuchung.[1][2][3][4][5][6][7][8] Die theoretisch höchstmögliche Auflösung liegt für 100 keV Elektronenenergie bei etwa 0,0037 nm und ist somit rund 100.000mal stärker als bei sichtbarem Licht, dessen Wellenlängen zwischen ca. 380 und 780 nm liegen. Beim Transmissionselektronenmikroskop lag die Auflösungsgrenze 2015 bei 0,045 nm.[9]
Die Erfindung des Elektronenmikroskops brachte wesentliche Fortschritte bei der Untersuchung von Strukturen im Bereich der Physik und Biologie.
Andere Lexika
Einzelnachweise
- ↑ Advanced correlative light/electron microscopy: current methods and new developments using Tokuyasu cryosections. J Histochem Cytochem 57(12):1103-12 (2009) PMID 19654103
- ↑ Correlative fluorescence and electron microscopy on ultrathin cryosections: bridging the resolution gap. J Histochem Cytochem 49(7):803-8 (2001) PMID 11410605
- ↑ Immuno- and affinity probes for electron microscopy: a review of labeling and preparation techniques. J Histochem Cytochem 38(2):145-57 (1990) PMID 2405054
- ↑ Lanthanum as an electron microscopic stain. J Histochem Cytochem 30(12):1325-30 (1982) PMID 6185564
- ↑ Freezing and drying of biological tissues for electron microscopy. J Histochem Cytochem 29(9):1021-8 (1981) PMID 7026665
- ↑ The scanning electron microscope: potential usefulness to biologists. A review. J Histochem Cytochem 21(2):109-30 (1973) PMID 4571700
- ↑ Electron microscopic immunocytochemistry: a review. J Histochem Cytochem 15(3):139-59 (1967) PMID 5340570
- ↑ Biological application of immunologic techniques in electron microscopy. J Histochem Cytochem 14(10):730-6 (1966) PMID 5338983
- ↑ Hidetaka Sawada, Naoki Shimura, Fumio Hosokawa, Naoya Shibata and Yuichi Ikuhara: Resolving 45-pm-separated Si-Si atomic columns with an aberration-corrected STEM. 2015. Abgerufen am 16. November 2016. (en)